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  • 紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR 硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應力評估很難實現,為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。
  • 應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產過程中*的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項測量。
  • 雙折射測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
  • 雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
  • 雙折射測量儀PA-Micro操作簡單,測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。
  • online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升級STS 。 操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。
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